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Method for forming oxide isolation films on french sidewalls

机译:在法国侧壁上形成氧化物隔离膜的方法

摘要

In a method according to the present invention for forming isolation oxide films (14) on a silicon substrate (11) having trenches and islands bounded by the trenches, the isolation oxide films are simultaneously formed in the island regions and in the side wall regions of the trenches by oxidizing the substrate (11) with a single patterned oxidation mask (12).
机译:在根据本发明的用于在具有沟槽和被沟槽界定的岛的硅衬底(11)上形成隔离氧化膜(14)的方法中,隔离氧化膜同时形成在硅的岛区域和侧壁区域中。通过用单个图案化的氧化掩模(12)氧化衬底(11)来形成沟槽。

著录项

  • 公开/公告号US4772569A

    专利类型

  • 公开/公告日1988-09-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MITSUBISHI DENKI KABUSHIKI KAISHA;

    申请/专利号US19870113744

  • 发明设计人 IKUO OGOH;TATSUYA ISHII;

    申请日1987-10-28

  • 分类号H01L21/308;H01L21/316;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 06:48:34

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