首页> 外国专利> process and apparatus for the location of leaks in pressure systems on the basis of related acoustic emission

process and apparatus for the location of leaks in pressure systems on the basis of related acoustic emission

机译:基于相关声发射的压力系统泄漏定位方法和装置

摘要

机译:

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号