机译:用于测量旋转装置位置装置的一个或多个几何和运动学参数的装置,以测量装置的几何中心的任何横向位移。用于测量旋转装置到装置装置的参考点组的基本瞬时角位置的旋转的装置当旋转装置绕旋转轴旋转时,实质上测量装置的velOcidade瞬时角旋转。旋转轴系支持X射线断层扫描法测定参数。与装有圆盘的设备的移动相关联的设备假定您在围绕旋转轴的旋转平面中旋转。
公开/公告号BR9408119A
专利类型
公开/公告日1997-08-05
原文格式PDF
申请/专利权人 ANALOGIC CORPORATION;
申请/专利号BR19949408119
申请日1994-10-25
分类号G01D5/34;
国家 BR
入库时间 2022-08-22 03:27:47