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Simulation analysis device and simulation analysis manner

机译:仿真分析装置及仿真分析方式

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a simulation analyzing device which facilitates the specification of an analytic node for investigating cause, easily generates a circuit diagram of an analytic path, and shortens a verification time. ;SOLUTION: When the node at the start point of an analysis is specified, a 1st retrieval device 13 retrieves an element including the node for output and the input node of the element. Then a waveform display device 14 displays the waveform of signal information at the retrieved node by retrieving the signal information from a 1st data base 19. At the same time, a circuit display device 16 generates and displays the circuit from the start point of the analysis to the retrieved element. A selecting device 17 selects a node in a coming analytic route from display devices 14 and 16. Nodes except the selected node are deleted from the display devices 14 and 16 and the stage right before the selected node is retrieved and passed to the display devices 14 and 16 under the control of a controller 18.;COPYRIGHT: (C)1999,JPO
机译:解决的问题:提供一种仿真分析装置,该仿真分析装置有助于指定用于调查原因的分析节点,容易地生成分析路径的电路图并缩短验证时间。 ;解决方案:当指定分析起点处的节点时,第一检索设备13检索包括用于输出的节点和该元素的输入节点的元素。然后,波形显示装置14通过从第一数据库19取回信号信息,在检索到的节点上显示信号信息的波形。同时,电路显示装置16从分析的起点生成并显示电路。到检索到的元素。选择装置17从显示装置14和16中选择即将来临的解析路径中的节点。从显示装置14和16中删除除了所选择的节点以外的节点,以及在检索到所选择的节点并将其传递给显示装置14之前的阶段。和16在控制器18的控制下;版权:(C)1999,JPO

著录项

  • 公开/公告号JP3028792B2

    专利类型

  • 公开/公告日2000-04-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本電気株式会社;

    申请/专利号JP19970228568

  • 发明设计人 綾部 麻子;

    申请日1997-08-25

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 02:03:54

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