机译:包含电子设备的表面层结构及其制造,多种采用表面层结构的微物体的环境控制和影响测试方法,以及防止干扰的方法
公开/公告号JP2000332309A
专利类型
公开/公告日2000-11-30
原文格式PDF
申请/专利号JP19990142713
发明设计人 MARUI TOMOTAKA;TSUKAGOSHI TAKASHI;KATAYAMA YOSHIHIRO;IMAI YASUMASA;OZAWA KAZUO;FUJISHIMA MINORU;
申请日1999-05-24
分类号H01L35/28;B62D57/00;C12M1/00;G01N27/414;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 01:26:55