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Process for ionizing analysis materials on the tips of micro dendrites under the influence of a high electric field, comprises feeding the materials to the tips of the dendrites

机译:在高电场的影响下使微树枝状晶体尖端上的分析材料电离的方法,包括将材料送入树枝状晶体尖端中

摘要

Process for ionizing analysis materials on the tips of micro dendrites under the influence of a high electric field comprises feeding the materials to the tips of the dendrites as a component of a liquid matrix which is temporarily vacuum-resistant in the ion source and has a high surface mobility. An Independent claim is also included for a device for ionizing analysis materials on the tips of micro dendrites comprising micro dendrites (2) with microtips (3) connected to a sample feed tube (1) either directly and/or at a distance of a few millimeters. Preferred Features: The micro dendrites are connected directly to the outlet opening (4) of the sample tube.
机译:在高电场的影响下使微树枝状晶体尖端上的分析材料电离的方法包括将材料作为液态基质的一种组分送入树枝状晶体尖端,该基质在离子源中暂时耐真空并且具有高表面迁移率。还包括一种独立的权利要求,涉及一种用于使微树突尖端上的分析材料电离的设备,该设备包括微树突(2),其中微尖端(3)直接和/或以几个距离连接到样品进料管(1)。毫米。首选功能:微量树突直接连接到样品管的出口(4)。

著录项

  • 公开/公告号DE19963317A1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-07-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LINDEN HANS BERNHARD;

    申请/专利号DE1999163317

  • 发明设计人 LINDEN HANS BERNHARD;

    申请日1999-12-22

  • 分类号G01N27/62;H01J49/10;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 01:10:06

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