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Methods for making VLSI capacitors and high Q VLSI inductors using metal- filled via plugs

机译:使用金属填充通孔塞制造VLSI电容器和高Q VLSI电感器的方法

摘要

Disclosed are methods of making inductors and capacitors, comprising filling a via in a dielectric disposed between two metal layers with a metal plug. The plug comprises tungsten, aluminum or copper and extends the length of the metal layers. The plug connects the two metal layers to form the inductor. Two plugs can be formed so as to connect the two metal layers so as to form a parallel plate capacitor.
机译:公开了制造电感器和电容器的方法,包括用金属塞填充位于两个金属层之间的电介质中的通孔。插头包括钨,铝或铜,并延伸金属层的长度。插头连接两个金属层以形成电感器。可以形成两个插头以连接两个金属层,从而形成平行板电容器。

著录项

  • 公开/公告号US6146958A

    专利类型

  • 公开/公告日2000-11-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NATIONAL SEMICONDUCTOR CORPORATION;

    申请/专利号US19980158219

  • 发明设计人 JI ZHAO;CHIH SIEH TENG;

    申请日1998-09-22

  • 分类号H01L21/20;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 01:06:38

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