要解决的问题:通过在程序内部自动设置最佳收敛准则来加快对非线性方程的分析。解决方案:使用迭代解决方案通过求解非线性方程来分析半导体的器件特性的方法,包括输入与器件特性相关的预定条件的步骤,设置由稀疏阵列组成的行列式的步骤预定条件,通过重复循环使行列式线性化以获取解矩阵的步骤,确定解矩阵是否满足线性方程的收敛准则的步骤,更改线性方程的收敛准则的步骤方程,基于解的矩阵和确定通过线性化的解的矩阵是否满足非线性方程的收敛准则的步骤,从而可以减少重复次数,从而满足方程的收敛准则。非线性方程,大大减少了计算时间。
版权:(C)2003,日本特许厅
公开/公告号JP2003162517A
专利类型
公开/公告日2003-06-06
原文格式PDF
申请/专利号JP20010361444
发明设计人 OKURA YASUYUKI;
申请日2001-11-27
分类号G06F17/11;G06F17/16;G06F17/50;G06F19/00;H01L29/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 00:13:23