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Method for optimizing design parameters and method for setting the optimized design parameters in data storage system

机译:在数据存储系统中优化设计参数的方法和设置优化设计参数的方法

摘要

PURPOSE: A method of optimizing design parameters of a data storing system and a method of applying optimized design parameters are provided to remarkably increase a quality security period of the data storing system and the frequency of using the system. CONSTITUTION: The first design parameter values for optimizing a data storing system in a general burn-in test condition are determined and stored(306). A progressive failure generation condition that is predicted in the data storing system is generated(307). The third design parameter values for optimizing the data storing system in the predicted progressive failure generation condition are set and stored(311). The average value of the first and third design parameter values is calculated and stored as the second design parameter value(312).
机译:目的:提供一种优化数据存储系统的设计参数的方法和一种应用优化的设计参数的方法,以显着增加数据存储系统的质量安全期限和使用系统的频率。组成:确定并存储用于在一般老化测试条件下优化数据存储系统的第一设计参数值(306)。产生在数据存储系统中预测的渐进式故障产生条件(307)。设置并存储用于在预测的渐进式故障产生条件下优化数据存储系统的第三设计参数值(311)。计算第一和第三设计参数值的平均值,并将其存储为第二设计参数值(312)。

著录项

  • 公开/公告号KR20020090534A

    专利类型

  • 公开/公告日2002-12-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号KR20010029411

  • 发明设计人 NOH CHEONG RAE;

    申请日2001-05-28

  • 分类号G11B20/18;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 23:48:32

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