要解决的问题:通过测量表示统计偏差值的程度和出现在数据序列中的变化点来精确检测偏差值和变化点。解决方案:对于顺序输入的一系列数据,时间序列模型学习装置21学习作为时间序列统计模型读取的数据序列的生成机制,分数计算装置23计算每个数据的偏差值分数基于时间序列模型的参数和输入的数据,移动平均值计算设备22计算偏差值得分的移动平均值,时间序列模型学习设备24将移动平均值序列的生成机制学习为时间序列统计模型,以及得分计算装置23,进一步基于该偏离值得分的移动平均值来计算该移动平均值的偏离值得分,并将其输出为原始数据的变化点得分,以计算该偏离值。值分数和变化点分数,以检测偏差值和变化点。
版权:(C)2004,日本特许厅
公开/公告号JP2004054370A
专利类型
公开/公告日2004-02-19
原文格式PDF
申请/专利权人 NEC CORP;
申请/专利号JP20020207718
申请日2002-07-17
分类号G06N1/00;G06F17/17;G06F17/18;G06F19/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 23:31:02