机译:一维,二维和三维Massverk以及所有; rperungen物理gr&all; &w; e,lä nge结合了光学和触觉式的antastbaren messflä陈,有系统的黑白antastverfahren的参考
公开/公告号DE202004007653U1
专利类型
公开/公告日2004-11-25
原文格式PDF
申请/专利号DE202004007653
发明设计人
申请日2004-05-10
分类号G01B21/02;G01B11/02;G01B5/02;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 22:00:34