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Light scattering apparatus, light scattering measurement method, light scattering analysis apparatus and light scattering measurement analysis method

机译:光散射装置,光散射测定方法,光散射分析装置以及光散射测定分析方法

摘要

A light scattering apparatus capable of measuring light scattering of opaque samples. In the apparatus, control section 190 controls an optical path length required for laser light output from laser light source 210 to being incident on a sample and then outgoing as scattered light to approximate by zero. Detector 330 detects outgoing scattered light to output as a photon pulse. Pulse interval measurer 350 measures a time interval of the photon pulse output from detector 330. An operator in computer 360 calculates an n-order correlation function (n1) using the time interval of the photon pulse measured in pulse interval measurer 350.
机译:一种能够测量不透明样品的光散射的光散射装置。在该设备中,控制部分 190 控制从激光源 210 输出的激光入射到样品上然后作为散射光出射所需的光程,以近似被零。检测器 330 检测出射的散射光,以光子脉冲的形式输出。脉冲间隔测量器 350 测量从检测器 330 输出的光子脉冲的时间间隔。计算机 360 中的操作员使用在脉冲间隔测量器 350中测量的光子脉冲的时间间隔来计算n阶相关函数(n 1 )。

著录项

  • 公开/公告号US2006044558A1

    专利类型

  • 公开/公告日2006-03-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HIDEMITSU FURUKAWA;

    申请/专利号US20050070270

  • 发明设计人 HIDEMITSU FURUKAWA;

    申请日2005-03-03

  • 分类号G01N21/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:45:34

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