机译:用于分析的带盖微型芯片,所述带盖微型芯片的样品处理方法,带盖微型芯片的自动样品自动处理方法,基于所述处理方法的自动样品处理装置,以及针对所述含碳量自动分析的物质分析方法
公开/公告号WO2006085604A1
专利类型
公开/公告日2006-08-17
原文格式PDF
申请/专利号WO2006JP302333
申请日2006-02-10
分类号G01N35/08;G01N1/10;G01N27/447;G01N37;
国家 WO
入库时间 2022-08-21 21:29:49