要解决的问题:提供一种DMOS晶体管及其制造方法,该DMOS晶体管以相对少的掩模工艺制造,并且提高了工艺可控性和击穿电压的稳定性。
解决方案:沟槽型DMOS晶体管是通过使用七个掩模工艺制造的,其中一个工艺定义了p +型深主体区域,并形成了晶体管的有源区,在该有源区中,其掩模通过LOCOS工艺形成。另一掩膜工艺限定了远侧区域的绝缘氧化物层,该远侧区域的厚度比晶体管的有源区域厚,从而减少了生产工艺中的基板污染并且可以提高工艺可控性。此外,通过在远侧区域中的厚场氧化物层改善了场效应分布,并且可以稳定地预期电子雪崩屈服电压。
版权:(C)2008,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007281515A
专利类型
公开/公告日2007-10-25
原文格式PDF
申请/专利权人 SILICONIX INC;
申请/专利号JP20070168352
申请日2007-06-27
分类号H01L21/336;H01L29/78;H01L29/06;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:15:33