机译:用于确定微电子机构中所需尺寸的测量工具中的故障的方法,用于确定所需尺寸的测量工具系统中的故障的确定方法,用于测量故障日志的方法(系统中测量工具错误的系统)
要解决的问题:提供一种识别用于测量微电子机构的期望尺寸的测量工具系统的故障的方法。解决方案:系统的每个测量工具执行多个用于测量微电子机构所需尺寸的配方,并且每个配方都包括一系列命令,用于测量微电子机构的至少一个尺寸。该系统包括一个错误日志,用于在测量微电子机构的尺寸时存储故障。该方法包括以下过程:确定从错误日志中存储的故障到用于测量工具的配方的错误的标准化数量;一种用于在错误日志中识别至少一个具有最大标准化错误数的配方的过程;一种用于通过要由测量工具执行的作业列表来识别至少一个具有最大标准化错误数的已识别配方的过程;以及一种用于从至少一个识别出的具有最大数量的标准化错误的配方中确定至少一个配方的错误原因的过程。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007003528A
专利类型
公开/公告日2007-01-11
原文格式PDF
申请/专利号JP20060173043
申请日2006-06-22
分类号G01B21/02;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:15:07