要解决的问题:为了有效地创建关于电路的下级层次层的特征值的库,该库在执行具有电路的下级层次层和电路的上原点层次层的电路的操作验证时使用,以及大大缩短了库创建时间。
解决方案:该库创建设备/方法包括:确定部分12,用于确定电路中的仿真目标电路;仿真部分14,用于对仿真目标电路执行仿真;以及准备部分15,用于创建仿真目标电路。基于仿真部分14的仿真结果,获得关于仿真目标电路的特性值的库。
COPYRIGHT:(C)2007,JPO&INPIT
公开/公告号JP2007188438A
专利类型
公开/公告日2007-07-26
原文格式PDF
申请/专利权人 FUJITSU LTD;
申请/专利号JP20060007892
发明设计人 NABEYA KENICHI;
申请日2006-01-16
分类号G06F17/50;G01R31/28;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:14:45