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METHODS OF FORMING METAL THIN FILMS, LANTHANUM OXIDE FILMS, AND HIGH DIELECTRIC FILMS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES USING ATOMIC LAYER DEPOSITION

机译:原子层沉积形成半导体器件的金属薄膜,氧化镧薄膜和高介电薄膜的方法

摘要

The present invention provides methods of forming metal thin films, lanthanum oxide films and high dielectric films. Compositions of metal thin films, lanthanum oxide films and high dielectric films are also provided. Further provided are semiconductor devices comprising the metal thin films, lanthanum oxide films and high dielectric films provided herein.
机译:本发明提供了形成金属薄膜,氧化镧膜和高介电膜的方法。还提供了金属薄膜,氧化镧膜和高介电膜的组成。还提供了包括本文提供的金属薄膜,氧化镧膜和高介电膜的半导体器件。

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