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Nonvolatile memory using a two-step cell verification process

机译:使用两步单元验证过程的非易失性存储器

摘要

A nonvolatile memory comprises a plurality of memory cells, a bit line control circuit and a verifying circuit. The bit line control circuit includes a driving circuit and a non-driving circuit. The verifying circuit verifies a first threshold voltage of the memory cell when the driving circuit drives the memory cell. The verifying circuit also verifies a second threshold voltage when the driving circuit does not drive the memory cell.
机译:非易失性存储器包括多个存储单元,位线控制电路和验证电路。位线控制电路包括驱动电路和非驱动电路。当驱动电路驱动存储单元时,验证电路验证存储单元的第一阈值电压。当驱动电路不驱动存储单元时,验证电路还验证第二阈值电压。

著录项

  • 公开/公告号US2006268619A1

    专利类型

  • 公开/公告日2006-11-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHUNG-ZEN CHEN;

    申请/专利号US20050141145

  • 发明设计人 CHUNG-ZEN CHEN;

    申请日2005-05-31

  • 分类号G11C11/34;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:01:52

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