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Parametric adc - test

机译:参数ADC-测试

摘要

Method and device for the testing of a / d - transducers to accuracy and / or security of the transformation of analog signals into binary values, characterized in that only two complementary to each other, which is coupled to the analog reference measuring values, which are afflicted with a defined error band width, and serve as a check value of the assumptions the greatest possible error of this reference variables the expected accuracy of a transformed, - digital values is calculated, and from the statistical measurement results on the accuracy of the a / d - transducer permits conclusions to be made.
机译:用于测试模数转换器的精度和/或将模拟信号转换为二进制值的安全性的方法和装置,其特征在于,只有两个彼此互补的耦合到模拟参考测量值,它们是受到定义的误差带宽的影响,并用作假设的校验值,该参考变量的最大可能误差是变换后的预期精度,-计算数字值,并从统计测量结果中得出/ d-传感器可以得出结论。

著录项

  • 公开/公告号DE102005050768A1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-04-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号DE20051050768

  • 发明设计人

    申请日2005-10-24

  • 分类号H03M1/10;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 20:29:39

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