解决方案:灰度数据是通过观察通过使用偏振显微镜记录了磁畴的磁光记录介质M所获得的图像数据计算得出的,磁场分布是根据从灰度计算出的磁场强度数据输出的数据,测量记录在磁光记录介质M中的磁畴的磁场分布,从通过使用偏振显微镜观察被记录激光束照射的磁光记录介质M而获得的图像数据计算灰度数据。当从磁光记录介质M记录磁畴时,根据灰度数据计算出磁场强度数据,根据从磁场强度数据计算出的温度数据和激光束点的温度分布,输出温度分布。测量。
版权:(C)2008,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2008165874A
专利类型
公开/公告日2008-07-17
原文格式PDF
申请/专利权人 FUNAI ELECTRIC CO LTD;
申请/专利号JP20060352690
发明设计人 IZAWA FUMIHITO;
申请日2006-12-27
分类号G11B5/84;G11B11/105;G11B5;G11B7/0045;G01R33/10;G01R33/12;G01R33/02;G01K11/12;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:24:44