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High resolution x-ray and gamma ray imaging using diffraction lenses with mechanically bent crystals

机译:使用具有机械弯曲晶体的衍射透镜进行高分辨率X射线和伽马射线成像

摘要

A method for high spatial resolution imaging of a plurality of sources of x-ray and gamma-ray radiation is provided. High quality mechanically bent diffracting crystals of 0.1 mm radial width are used for focusing the radiation and directing the radiation to an array of detectors which is used for analyzing their addition to collect data as to the location of the source of radiation. A computer is used for converting the data to an image. The invention also provides for the use of a multi-component high resolution detector array and for narrow source and detector apertures.
机译:提供了一种用于多个x射线和γ射线辐射源的高空间分辨率成像的方法。径向宽度为0.1 mm的高质量机械弯曲衍射晶体用于聚焦辐射并将辐射定向到检测器阵列,该检测器阵列用于分析其添加量以收集有关辐射源位置的数据。计算机用于将数据转换为图像。本发明还提供了多分量高分辨率检测器阵列的用途以及狭窄的源和检测器孔的用途。

著录项

  • 公开/公告号US7468516B2

    专利类型

  • 公开/公告日2008-12-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ROBERT K. SMITHER;

    申请/专利号US20060479797

  • 发明设计人 ROBERT K. SMITHER;

    申请日2006-06-30

  • 分类号G21K1/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 19:29:14

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