机译:用于测量传导电磁干扰(emi)的系统和方法,可以根据国际标准诊断工业用三相被测电气设备(eut)中的电磁兼容性(emc)。
公开/公告号CL2007003883A1
专利类型
公开/公告日2009-01-30
原文格式PDF
申请/专利号CL20070003883
发明设计人 RICARDO OLIVARES VELIZ;CRISTIAN FUENTES R.;ALAN TORO SALAS;JORGE PONTT OLIVARES;HECTOR CARRASCO E.;MANUEL L. ORMENO;
申请日2007-12-31
分类号G01R29/08;H05K9/00;
国家 CL
入库时间 2022-08-21 19:28:20