首页> 外国专利> ARRAY TESTER, METHOD FOR MEASURING A POINT OF SUBSTRATE OF THE SAME AND METHOD FOR MEASURING A POSITION CORDINATE

ARRAY TESTER, METHOD FOR MEASURING A POINT OF SUBSTRATE OF THE SAME AND METHOD FOR MEASURING A POSITION CORDINATE

机译:阵列测试仪,用于测量同一点基点的方法和用于测量位置坐标的方法

摘要

An array tester, method for measuring a point of substrate of the same and a method for measuring a position coordinate are provided to reduce a measurement time at a certain position by calculating a position coordinates of each pixel adjacent a camera. In an array tester and a method for measuring a point of substrate of the same, an array testing apparatus(10) comprises a test module(50), a loading unit(20), a test block(30), and an un-loader(40). The loading unit comprises two or more Loading plates(22), and the substrate is supported by a substrate chuck(70) and is transferred to a test block. The test block comprises a stage(32) for test and voltage supply unit(38), and the test module comprises one or more modulator head(100).
机译:提供了阵列测试器,用于测量基板的点的方法以及用于测量位置坐标的方法,以通过计算与照相机相邻的每个像素的位置坐标来减少在特定位置处的测量时间。在阵列测试仪及其测量衬底的点的方法中,阵列测试装置(10)包括测试模块(50),加载单元(20),测试块(30)和分离单元。装载机(40)。所述装载单元包括两个或更多个装载板(22),并且所述衬底由衬底卡盘(70)支撑并且被传送到测试块。该测试块包括用于测试和电压供应单元(38)的级(32),并且测试模块包括一个或多个调制器头(100)。

著录项

  • 公开/公告号KR100911330B1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-08-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TOP ENGINEERING CO. LTD.;

    申请/专利号KR20080137136

  • 发明设计人 SEO YONG KYU;JANG MOON JU;RYU DO HYUN;

    申请日2008-12-30

  • 分类号G01R31/26;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 19:11:45

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号