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Tracing ahead jointing the formative

机译:追寻未来的成长

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor integrated circuit design support system capable of automatically extracting a place where the propagation of an unfixed value of a designing circuit with a predetermined reset period given thereto occurs.;SOLUTION: The semiconductor integrated circuit design support system includes an unfixed value occurrence FF(flip-flop) detection means 1 for detecting an FF with no reset exceeding the number of clock stages as the cause of unfixed value propagation when the number of stages of FF with no reset which sequentially track connection destinations of components in a target circuit 100 and are continuously connected without going through an FF with reset exceeds the number of clock stages corresponding to the reset period.;COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种半导体集成电路设计支持系统,该系统能够自动提取发生具有给定的预定复位周期的设计电路的非固定值的传播的位置。包括非固定值出现FF(触发器)检测装置1,用于检测无复位的FF超过时钟级数的FF作为非固定值传播的原因,当无复位的FF的级数依次跟踪连接目的地的FF时目标电路100中的各个组件并通过FF进行连续连接而没有经过重置,重置超过对应于重置周期的时钟级数。;版权所有(C)2007,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP4549935B2

    专利类型

  • 公开/公告日2010-09-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三菱電機株式会社;

    申请/专利号JP20050171224

  • 发明设计人 平野 進;

    申请日2005-06-10

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 18:59:51

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