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BUMP WITH MULTIPLE VIAS FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE AND FABRICATION METHOD THEREOF, AND SEMICONDUCTOR PACKAGE UTILIZING THE SAME

机译:半导体封装用多个焊口的凹凸及其制造方法,以及利用相同结构的半导体封装

摘要

A bump for a semiconductor package forms a polymer layer having multiple vias on an electrode pad above a semiconductor chip to increase an electrical contact area between the electrode pad and a metal bump. Further, the bump forms a polymer layer having multiple vias on a redistribution electrode pad to increase a surface area of an electrode interconnection. The multiple vias increase electrical and mechanical contact areas, thereby preventing current crowding and improving joint reliability. The bump for a semiconductor package may further comprise a stress relaxation layer at the lower portion of the bump.
机译:用于半导体封装的凸块在半导体芯片上方的电极焊盘上形成具有多个通孔的聚合物层,以增加电极焊盘和金属凸块之间的电接触面积。此外,凸块在重新分布电极焊盘上形成具有多个通孔的聚合物层,以增加电极互连的表面积。多个通孔可增加电气和机械接触面积,从而防止电流拥挤并提高接头可靠性。用于半导体封装的凸块可以进一步在凸块的下部包括应力松弛层。

著录项

  • 公开/公告号US2009283903A1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-11-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 YUN MOOK PARK;

    申请/专利号US20060095668

  • 发明设计人 YUN MOOK PARK;

    申请日2006-08-28

  • 分类号H01L23/488;H01L21/60;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:52:59

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