机译:用于实施患者的成像检查的方法,包括:从检测到的正电子发射断层摄影数据中评估正电子发射断层摄影全景图像,以及显示正电子发射断层摄影全景图像。
公开/公告号DE102009014619A1
专利类型
公开/公告日2010-10-07
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;
申请/专利号DE20091014619
发明设计人 SCHUSTER DIRK;
申请日2009-03-24
分类号A61B6/03;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 18:28:22