要解决的问题:提供改进的高频特性测量系统(10)和用于测量诸如天线(12)之类的高频特性测试对象的特性的方法。
解决方案:该系统包括:一个或多个用于反射高频信号的反射器16和18;激光跟踪仪(20);用于反射激光跟踪器的激光束的多个后向靶材(22),其布置在反射器中并布置在高频特性测试对象中;还有一个测量单元(24)。测量单元控制激光跟踪仪以测量与高频特性测试对象的高频信号(26)的传播轴相关的高频特性测试对象的三维坐标,并测量三维坐标。一个或多个反射器中的一个与一个或多个反射器的高频信号(28)的传播轴有关。
版权:(C)2011,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2011107135A
专利类型
公开/公告日2011-06-02
原文格式PDF
申请/专利权人 ASTRIUM GMBH;
申请/专利号JP20100253758
发明设计人 HERRMANN JOERG;
申请日2010-11-12
分类号G01R29/10;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 18:22:50