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Power supply noise analysis method power supply noise analysis program, recording medium, and power supply noise analysis equipment

机译:电源噪声分析方法电源噪声分析程序,记录介质和电源噪声分析设备

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten the time for power supply noise analysis and increase the work efficiency.;SOLUTION: Power supply wiring dimension data, transistor performance data and substrate dimension data in a semiconductor integrated circuit are extracted from divided layout data in each region of the semiconductor integrated circuit generated from layout data on the semiconductor integrated circuit. A power supply wiring model, a transistor model and a substrate model are generated as components of a power supply noise analysis model from the various data thus extracted, and the power supply noise analysis model is created from the various models thus generated.;COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
机译:解决的问题:缩短电源噪声分析的时间并提高工作效率。解决方案:从每个区域的划分的布局数据中提取半导体集成电路中的电源布线尺寸数据,晶体管性能数据和基板尺寸数据根据在半导体集成电路上的布局数据产生的半导体集成电路的特性。从由此提取的各种数据中生成电源布线模型,晶体管模型和衬底模型作为电源噪声分析模型的组成部分,并从由此生成的各种模型中创建电源噪声分析模型。 (C)2008,日本特许厅&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP4882668B2

    专利类型

  • 公开/公告日2012-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号JP20060293509

  • 发明设计人 村松 篤;佐藤 富夫;笹川 隆平;

    申请日2006-10-30

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 17:36:51

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