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机译:全景,ct(计算机断层扫描)和头颅造影设备相结合-X射线机
公开/公告号DK1721574T3
专利类型
公开/公告日2012-06-18
原文格式PDF
申请/专利权人 VATECH EWOO HOLDINGS CO. LTD;VATECH CO. LTD.;
申请/专利号DK20050110549T
发明设计人 PARK JAE-YOON;KIM TAE-WOO;JIN YOUNG-GYUN;
申请日2005-11-09
分类号A61B6/14;
国家 DK
入库时间 2022-08-21 17:25:08
机译: 全景和ct(计算机断层扫描)组合X射线机
机译: 装置全景X射线摄影和CT(计算机断层摄影)相结合
机译: 全景,CT(计算机断层扫描)和头颅X射线检查仪的组合