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机译：一条线的综合测试
公开/公告号AT557289T
专利类型
公开/公告日2012-05-15
原文格式PDF
申请/专利权人 THALES;
申请/专利号AT20100156773T
发明设计人 BOUYAT STEPHANE;
申请日2010-03-17
分类号G01R31/317;
国家 AT
入库时间 2022-08-21 17:21:29
机译： 集成电路，用于集成电路的测试器，用于集成电路的测试方法，用于集成电路的测试方法程序以及将带有记录方法的介质记录到集成电路的测试方法中
机译： 用于测试集成电路的方法和设备，要测试的集成电路以及具有大量要测试的集成电路的晶片
机译： 用于测试集成电路的方法和装置，即要测试的集成电路是集成电路，以及具有多个要测试的集成电路的晶片
