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Test apparatus for x-ray device, has restoring unit that restores spatial layer of test object within receiving area of x-ray device, and control unit that controls test object for moving and positioning on predetermined trajectory

机译:用于x射线设备的测试设备,具有恢复单元,其在x射线设备的接收区域内恢复测试对象的空间层;以及控制单元,其控制测试对象以在预定轨迹上移动和定位。

摘要

The test apparatus (1) comprises a restoring unit that restores a spatial layer of a test object (2) within a receiving area of an x-ray device (20) based on an x-ray diagram. A control unit controls the test object for moving and positioning on a predetermined trajectory (8). An independent claim is included for method for testing x-ray device.
机译:测试设备(1)包括恢复单元,该恢复单元基于X射线图在X射线设备(20)的接收区域内恢复测试对象(2)的空间层。控制单元控制测试对象以在预定轨迹(8)上移动和定位。包括对X射线设备测试方法的独立权利要求。

著录项

  • 公开/公告号DE102011005993A1

    专利类型

  • 公开/公告日2012-09-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;

    申请/专利号DE20111005993

  • 发明设计人 KNAUER TOBIAS;

    申请日2011-03-23

  • 分类号G01N23/04;G01N23/06;A61B6/00;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 17:05:05

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