机译:透明基板的可视性评价装置,计算机可读记录介质的可视性评价程序并记录在透明基板,层压体的定位装置,定位程序的层压体和计算机可读的Na记录介质,金属和计算机可读记录介质确定单元和确定程序,并记录是否在堆栈中标记了透明基板以及金属和透明基板的存在,以检测设备,检测程序和计算机可读记录在其上记录了标记堆栈的介质上有一个
公开/公告号JP5337907B1
专利类型
公开/公告日2013-11-06
原文格式PDF
申请/专利权人 JX日鉱日石金属株式会社;
申请/专利号JP20120286127
申请日2012-12-27
分类号G01N21/17;G01N21/956;H05K3;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 16:54:44