机译:折射率分布测量方法,装置及其光学元件的制造方法,使用浸没在至少一种折射率与测试对象的折射率不同的介质中的测试对象的多个透射波前和参考的多个参考透射波前具有已知形状和折射率分布的物体
公开/公告号US8477297B2
专利类型
公开/公告日2013-07-02
原文格式PDF
申请/专利权人 SEIMA KATO;
申请/专利号US201113305827
发明设计人 SEIMA KATO;
申请日2011-11-29
分类号G01N21/41;
国家 US
入库时间 2022-08-21 16:44:46