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How to change to a specific method and the proper value of the suitability determination method and its proper value of the determination reference value, component mounting substrate inspection system, simulation method and system in production site

机译:生产现场如何更改为特定方法和适用性确定方法的适当值及其确定参考值的适当值,组件安装基板检查系统,模拟方法和系统

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号JP2012151251A5

    专利类型

  • 公开/公告日2014-02-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号JP2011008267

  • 发明设计人

    申请日0000-00-00

  • 分类号H05K13/08;H05K3/34;G01N21/956;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 16:18:22

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