首页> 外国专利> Methods for directly bonding together semiconductor structures, and bonded semiconductor structures formed using such methods

Methods for directly bonding together semiconductor structures, and bonded semiconductor structures formed using such methods

机译:将半导体结构直接键合在一起的方法以及使用这种方法形成的键合半导体结构

摘要

Embodiments of the present invention include methods of directly bonding together semiconductor structures. In some embodiments, a cap layer may be provided at an interface between directly bonded metal features of the semiconductor structures. In some embodiments, impurities are provided within the directly bonded metal features of the semiconductor structures. Bonded semiconductor structures are formed using such methods.
机译:本发明的实施例包括将半导体结构直接结合在一起的方法。在一些实施例中,可以在半导体结构的直接结合的金属特征之间的界面处提供覆盖层。在一些实施例中,在半导体结构的直接结合的金属特征内提供杂质。使用这种方法形成键合的半导体结构。

著录项

  • 公开/公告号US8778773B2

    专利类型

  • 公开/公告日2014-07-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MARIAM SADAKA;

    申请/专利号US20100970422

  • 发明设计人 MARIAM SADAKA;

    申请日2010-12-16

  • 分类号H01L21/30;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:04:41

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号