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Design space exploration of optimal k-cycle transient fault tolerant datapath based on multi-objective power-performance tradeoff

机译:基于多目标功率性能折衷的最优k周期瞬态容错数据路径设计空间探索

摘要

The present invention discloses a system (apparatus) and method for design space exploration of an optimal single or multi cycle (k-cycle) transient fault detectable and /or error correctable data path which indicates design space exploration method producing design solutions with ability of k-cycle transient fault detection and/or error correction and generation of an optimal k-cycle transient fault detectable and /or fault correctable datapath that minimizes user specified power and delay (or performance) constraint, by detecting transient faults using a double/ dual modular redundancy (DMR)and/or correcting them using a double/ dual modular redundancy (DMR) with recovery circuit. Further, the present invention enables to achieve high reliability of the systems by considering fault tolerance (detectability and/or correctability) as design metric (or constraint) besides power and execution delay during multi-objective design space exploration (DSE) in high level synthesis (HLS).
机译:本发明公开了用于最优单周期或多周期(k周期)瞬态故障可检测和/或纠错数据路径的设计空间探索的系统(装置)和方法,其指示产生具有k能力的设计解决方案的设计空间探索方法。周期瞬态故障检测和/或错误校正,以及生成最佳的k周期瞬态故障可检测和/或故障可校正数据路径,通过使用双/双模块检测瞬态故障,从而将用户指定的功率和延迟(或性能)约束最小化冗余(DMR)和/或使用带有恢复电路的双/双模块冗余(DMR)对其进行纠正。此外,本发明通过在高级综合中的多目标设计空间探索(DSE)期间的功率和执行延迟之外,通过考虑将容错(可检测性和/或可校正性)作为设计度量(或约束)来实现系统的高可靠性。 (HLS)。

著录项

  • 公开/公告号IN2014MU02456A

    专利类型

  • 公开/公告日2015-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INDIAN INST OF TECHNOLOGY INDORE;

    申请/专利号IN2014MUM2456

  • 发明设计人 SENGUPTA ANIRBAN;

    申请日2014-07-30

  • 分类号G06F17/50;G06F9/44;G06F17/10;

  • 国家 IN

  • 入库时间 2022-08-21 15:14:28

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