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Imaging device, interference fringe analysis program and interference fringe analysis method

机译:成像装置,干涉条纹分析程序和干涉条纹分析方法

摘要

An imaging apparatus includes a shearing interferometer and a calculation unit configured to calculate information on an object from an interference pattern obtained by the shearing interferometer, wherein the calculation unit solves, as simultaneous equations, three or more equations that express Fourier components at coordinates in a wave number space obtained by performing a windowed Fourier transform on the interference pattern.
机译:成像设备包括剪切干涉仪和计算单元,该计算单元被配置为根据由剪切干涉仪获得的干涉图案来计算关于物体的信息,其中,该计算单元将表示傅立叶分量的三个或更多个方程作为联立方程来求解。通过对干涉图案执行加窗傅里叶变换获得的波数空间。

著录项

  • 公开/公告号JP5885405B2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 キヤノン株式会社;

    申请/专利号JP20110131498

  • 发明设计人 長井 健太郎;

    申请日2011-06-13

  • 分类号G01B9/02;G01N23/04;G01N23/20;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 14:42:00

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