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METHOD FOR ANALYZING CHARACTERISTIC OF RESISTANCE VARIATION MEMORY AND APPARATUS FOR ANALYZING CHARACTERISTIC OF RESISTANCE VARIATION MEMORY

机译:电阻变化存储器的特性分析方法及电阻变化存储器的特性分析装置

摘要

The present invention relates to a characteristic analysis method which can better understand a driving mechanism of a resistance variation memory and prevent the damage to the resistance variation memory during a characteristic analysis process, and an analysis apparatus used for the characteristic analysis method. According to the present invention, the characteristic analysis method of the resistance variation memory performs analysis after connecting a resistance with a certain resistance value between the resistance variation memory and the analysis apparatus in series.;COPYRIGHT KIPO 2016
机译:本发明涉及一种能够更好地理解电阻变化存储器的驱动机理并防止在特性分析过程中损坏电阻变化存储器的特性分析方法,以及用于该特性分析方法的分析装置。根据本发明,电阻变化存储器的特性分析方法在将具有一定电阻值的电阻串联在电阻变化存储器与分析装置之间之后进行分析。COPYRIGHTKIPO 2016

著录项

  • 公开/公告号KR20160125794A

    专利类型

  • 公开/公告日2016-11-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 POSTECH ACADEMY-INDUSTRY FOUNDATION;

    申请/专利号KR20150056758

  • 发明设计人 CHUNG HA BINKR;KANG BYOUNG WOOKR;

    申请日2015-04-22

  • 分类号H01L21/66;H01L21/28;H01L27/24;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 14:13:16

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