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PHOTORESISTOR ON SILICON-ON-INSULATOR SUBSTRATE AND PHOTODETECTORS INCORPORATING SAME

机译:绝缘体上硅基质上的光敏电阻和结合的光电检测器

摘要

A photoresistor comprises a silicon-on-insulator substrate (101) comprising a device layer (4). In an example embodiment and mode at least two non-contiguous first highly conductive regions (2, 3) of semiconductor material are formed on a surface of the device layer, and at least one active region (1) of a high resistivity semiconductor material of a same conductivity type as the first highly conductive regions are formed to propagate through a whole thickness of the device layer and to electrically contact the at least two non-contiguous first highly conductive regions.
机译:光致抗蚀剂包括具有器件层(4)的绝缘体上硅衬底(101)。在示例实施例和模式中,在器件层的表面上形成半导体材料的至少两个不连续的第一高导电区域(2、3),并且在所述半导体层的表面上形成高电阻率的半导体材料的至少一个有源区域(1)。形成与第一高导电区域相同的导电类型以在器件层的整个厚度中传播并且与至少两个不连续的第一高导电区域电接触。

著录项

  • 公开/公告号EP3304578A4

    专利类型

  • 公开/公告日2018-12-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 OSI OPTOELECTRONICS INC.;

    申请/专利号EP20160804492

  • 发明设计人 GOUSHCHA ALEXANDER O.;

    申请日2016-06-03

  • 分类号H01L31/09;H01L31/0203;H01L31/0216;H01L31/0224;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 12:26:46

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