机译:用于相衬和/或暗场成像的X射线探测器,具有X射线探测器的干涉仪,X射线成像系统,用于执行相衬X射线成像和/或暗场X射线成像的方法以及计算机程序,计算机可读媒体
公开/公告号JP6581713B2
专利类型
公开/公告日2019-09-25
原文格式PDF
申请/专利权人 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ;
申请/专利号JP20180502658
发明设计人 プロクサ ローランド;
申请日2016-07-20
分类号G01T1/20;A61B6;G01N23/041;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 12:20:00