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Length measuring system, length measuring instrument and length measuring method

机译:测长系统,测长仪及测长方法

摘要

The length measurement system is provided with a scale pattern indicating a main scale, a band-shaped scale portion having an interpolation pattern indicating a position lower than the position indicated by the main scale, and a slideable relative to the scale portion. An instruction unit that indicates a target measurement position, a reading unit that reads the scale pattern and the interpolation pattern, and a measurement position that the instruction unit points to is measured based on the scale pattern and the interpolation pattern that are read by the reading unit. A length measurement unit including a data processing unit that calculates a value; and a data storage unit that stores a measurement value measured by the length measurement unit.
机译:长度测量系统设置有表示主刻度尺的刻度尺图案,具有表示比主刻度尺所表示的位置低的位置的插补图案的带状刻度尺部,以及相对于该刻度尺部可滑动的带状刻度尺部。指示目标测量位置的指令单元,读取比例尺图案和插值图案的读取单元以及基于通过读取读取的比例尺图案和插值图案来测量指令单元指向的测量位置单元。长度测量单元,包括计算值的数据处理单元;数据存储单元,其存储由长度测量单元测量的测量值。

著录项

  • 公开/公告号JPWO2018104994A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-10-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号JP20180555329

  • 发明设计人 恩田 信彦;

    申请日2016-12-05

  • 分类号G01B3/10;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 12:19:48

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