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Specimen analyzing method and specimen analyzing apparatus

机译:试样分析方法及试样分析装置

摘要

A specimen analyzing method and a specimen analyzing apparatus capable of measuring interference substances before analyzing a specimen. The method comprises a step for sucking the specimen stored in a specimen container (150) and sampling it in a first container (153), a step for optically measuring the specimen in the first container, a step for sampling the specimen in a second container (154) and preparing a specimen for measurement by mixing the specimen with a reagent in the second container, and a step for analyzing the specimen for measurement according to the results of the optical measurement of the specimen.
机译:能够在分析样本之前测量干扰物质的样本分析方法和样本分析装置。该方法包括以下步骤:吸取存储在标本容器( 150 )中的标本,并在第一容器( 153 )中对其进行采样;对标本进行光学测量的步骤。第一个容器是在第二个容器( 154 )中对标本进行采样并通过在第二个容器中将标本与试剂混合来制备要测量的标本的步骤,以及用于分析标本的步骤。根据样品的光学测量结果进行测量。

著录项

  • 公开/公告号US10261016B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-04-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SYSMEX CORPORATION;

    申请/专利号US201615070597

  • 申请日2016-03-15

  • 分类号G01N21/00;G01N21/59;G01N35/02;G01N21/17;G01N21/03;G01N21/31;G01N33/53;G01N33/86;G01N35/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:15:35

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