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Packaged semiconductor device with tensile stress and method of making a packaged semiconductor device with tensile stress

机译:具有拉应力的封装半导体器件以及制造具有拉应力的封装半导体器件的方法

摘要

An assembled semiconductor device and a method of making an assembled semiconductor device are disclosed. In one embodiment the assembled device includes a carrier having a first thickness, a connection layer disposed on the carrier and a chip disposed on the connection layer, the chip having a second thickness, wherein the second thickness is larger than the first thickness.
机译:公开了一种组装的半导体器件和制造组装的半导体器件的方法。在一个实施例中,组装的装置包括具有第一厚度的载体,设置在载体上的连接层和设置在连接层上的芯片,该芯片具有第二厚度,其中第二厚度大于第一厚度。

著录项

  • 公开/公告号US10229870B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号US201213691587

  • 发明设计人 RALF OTREMBA;

    申请日2012-11-30

  • 分类号H01L23/495;H01L21/50;H01L23/29;H01L23;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:14:21

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