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QIS HIGH CONTRAST STRUCTURED LIGHT PATTERNS FOR QIS SENSORS

机译:QIS传感器的QIS高对比度结构光图案

摘要

Disclosed are a system and a method for a structured light to estimate a depth of an image. An image which is a scene onto which a reference light pattern is projected while including projection of the reference light pattern is received. The reference light pattern includes a predetermined number of sub-patterns. A patch of the received image and the sub-pattern of the reference light pattern are matched based on either a hardcode template matching technique or a probability that the patch corresponds to the sub-pattern. If a lookup table is used, the table can be a probability matrix, can include precomputed correlations scores or can include precomputed class IDs. Estimation of a depth of the patch can be determined based on a disparity between the patch and the sub-pattern.
机译:公开了一种用于结构化光来估计图像深度的系统和方法。接收图像,该图像是包括参考光图案的投影而被参考光图案投影到其上的场景。参考光图案包括预定数量的子图案。基于硬代码模板匹配技术或该补丁对应于该子图案的概率来匹配接收到的图像的补丁和参考光图案的子图案。如果使用查找表,则该表可以是概率矩阵,可以包括预先计算的相关性得分,或者可以包括预先计算的类别ID。可以基于补丁和子图案之间的差异来确定补丁的深度的估计。

著录项

  • 公开/公告号KR20190070264A

    专利类型

  • 公开/公告日2019-06-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号KR1020180143030

  • 发明设计人 SHI LILONG;WANG YIBING MICHELLE;

    申请日2018-11-19

  • 分类号H04N13/254;H04N13/271;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 11:50:36

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