首页> 外国专利> TIME SERIES DATA ANALYSIS APPARATUS, TIME SERIES DATA ANALYSIS METHOD AND TIME SERIES DATA ANALYSIS PROGRAM

TIME SERIES DATA ANALYSIS APPARATUS, TIME SERIES DATA ANALYSIS METHOD AND TIME SERIES DATA ANALYSIS PROGRAM

机译:时间序列数据分析装置,时间序列数据分析方法和时间序列数据分析程序

摘要

A time series data analysis apparatus: generates first internal data, based on first feature data groups, first internal parameter, and first learning parameter; transforms first feature data's position in a feature space, based on the first internal data and second learning parameter; reallocates the first feature data, based on a first transform result and first feature data groups; calculates a first predicted value, based on a reallocation result and third learning parameter; optimizes the first-third learning parameters by statistical gradient, based on a response variable and first predicted value; generates second internal data, based on second feature data groups, second internal parameter, and optimized first learning parameter; transforms the second feature data's position in a feature space, based on the second internal data and optimized second learning parameter; and calculates importance data for the second feature data, based on a second transform result and optimized third learning parameter.
机译:时间序列数据分析设备:基于第一特征数据组,第一内部参数和第一学习参数,生成第一内部数据;根据第一内部数据和第二学习参数,变换第一特征数据在特征空间中的位置;基于第一变换结果和第一特征数据组,重新分配第一特征数据;基于重新分配结果和第三学习参数,计算第一预测值;根据响应变量和第一预测值,通过统计梯度优化前三分之一学习参数;基于第二特征数据组,第二内部参数和优化的第一学习参数,生成第二内部数据;基于第二内部数据和优化的第二学习参数,变换第二特征数据在特征空间中的位置;并基于第二变换结果和优化的第三学习参数计算第二特征数据的重要性数据。

著录项

  • 公开/公告号US2020082286A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD.;

    申请/专利号US201916555644

  • 申请日2019-08-29

  • 分类号G06N5/04;G06N3/08;G06N3/04;G06K9/62;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 11:24:58

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号