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PROCESS, OPTICAL ELEMENT, OPTICAL SYSTEM AND LITHOGRAPHY SYSTEM

机译:工艺,光学元件,光学系统和光刻系统

摘要

A method for processing an optical element (202) for a lithography system (100A, 100B), comprising the steps: a) determining (S1) a local curve (216) of the coefficient of thermal expansion (α) of a substrate (204) of the optical element (202 ); and b) local irradiation (S3) of the substrate (204) with particles (222), in particular with electrons, for changing the local profile (216) of the coefficient of thermal expansion (α).
机译:一种用于光刻系统(100A,100B)的光学元件(202)的处理方法,包括以下步骤:a)确定(S1)衬底(204)的热膨胀系数(α)的局部曲线(216)。 )的光学元件(202); b)用颗粒(222),特别是用电子对衬底(204)进行局部辐照(S3),以改变热膨胀系数(α)的局部轮廓(216)。

著录项

  • 公开/公告号DE102020201677A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-10-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CARL ZEISS SMT GMBH;

    申请/专利号DE202010201677

  • 发明设计人 CHRISTIAN KARLEWSKI;TORALF GRUNER;

    申请日2020-02-11

  • 分类号G02B5/08;G03F7/20;G02B1/12;H01J37/317;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 11:01:05

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