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PROCESS FOR OPTIMAL ADJUSTMENT OF GIVE ERROR TERMINALS OR OPTIMUM CALCULATION OF IGP POINT RESIDUE VARIANCES OF AN IONOSPHERIC CORRECTION GRID OF AN SBAS SYSTEM AND SBAS SYSTEM FOR IMPLEMENTING THE SAID PROCESS

机译:SBAS系统和用于实现上述过程的SBAS系统的电球校正网格的电误差终端的最佳调整或IGP点残差的最佳计算的过程

摘要

A method for optimally adjusting GIVE ionospheric correction error bounds and / or a method for calculating variances of IGP point residuals of an ionospheric correction grid of an SBAS system each comprise an inverse interpolation step ( 220) implementation on a set of observation piercing points IPPi. In the method for optimal adjustment of the GIVEs, the reverse interpolation step (220) disseminates for each observation piercing point IPPi concerned a variance increment ΔUIVEi 2 on the IGP points of the mesh of said IPPi using a method least squares. In the calculation of the variances of residues, the inverse interpolation step disseminates for each point of observation piercing IPPi concerned a residue Resi 2 on the IGP points of the mesh of said IPPi using a least squares method
机译:用于最优地调节GIVE电离层校正误差范围的方法和/或用于计算SBAS系统的电离层校正网格的IGP点残差的方差的方法均包括在一组观察穿刺点IPPi上的逆插值步骤(220)。在用于GIVE的最佳调整的方法中,反向内插步骤(220)使用最小二乘法为所述IPPi的网格的IGP点上的每个观察穿刺点IPPi分配方差增量ΔUIVEi2。在残差方差的计算中,逆插值步骤使用最小二乘法为观察IPPI的每个点散布有关IPPi网格的IGP点上的残差Resi 2。

著录项

  • 公开/公告号FR3061560B1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-10-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 THALES;

    申请/专利号FR20160001897

  • 申请日2016-12-29

  • 分类号G01S19/07;G01S19/01;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 11:00:45

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