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Procedure for automatic calibration of an optical measurement system and an optical measurement system

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum automatischen Kalibrieren eines optischen Messsystems (1), insbesondere eines Mikroplatten-Lesegeräts, welches zumindest einen optischen Detektor (2), zumindest eine erste steuerbare Kalibrierstrahlungsquelle (4) sowie zumindest einen Strahlungsleiter (9) oder ein Strahlungsumlenkelement aufweist, mit den folgenden Schritten:a) Leiten einer Kalibrierstrahlung von der zumindest ersten steuerbaren Kalibrierstrahlungsquelle (4, 5) zu dem optischen Detektor (2) mittels des Strahlungsleiters oder Strahlungsumlenkelements (9), wobei die auf den optischen Detektor (2) auftreffende Kalibrierstrahlung eine Bestrahlungsstärke E aufweist;b) Bestimmen eines ersten Detektorausgangssignals I

著录项

  • 公开/公告号DE102019100332A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020.07.09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BMG Labtech GmbH;

    申请/专利号DE102019100332

  • 发明设计人 Markus Schappacher;Ralf Adelhelm;

    申请日2019.01.08

  • 分类号

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 10:52:33

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