公开/公告号CN101460858B
专利类型发明专利
公开/公告日2012-04-11
原文格式PDF
申请/专利权人 浜松光子学株式会社;
申请/专利号CN200680054968.6
申请日2006-10-23
分类号
代理机构北京尚诚知识产权代理有限公司;
代理人龙淳
地址 日本静冈县
入库时间 2022-08-23 09:09:35
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-12-16
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/956 授权公告日:20120411 终止日期:20141023 申请日:20061023
专利权的终止
2012-04-11
授权
授权
2009-08-12
实质审查的生效
实质审查的生效
2009-06-17
公开
公开
机译: 不良反应分析系统及不良反应分析方法
机译: 接触不良的方法,接触不良的装置以及使用该接触不良的半导体装置的制造方法
机译: 不良信号识别装置,不良信号识别方式,不良信号识别程序,代码为不良信号识别装置,其中