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纳米锆酸镧外延层与Ni-W衬底晶体取向匹配关系的电子背散射衍射(EBSD)测试方法

摘要

纳米锆酸镧外延层与Ni-W衬底晶体取向匹配关系测试方法,属于超导薄膜性能测试技术领域,其特征在于,在热场发射扫描电镜SEM-电子背散射衍射仪EBSD分析测试系统中,调整二次电子放大倍率、扫描步进距离,使得能在加速电压最低为6kV条件下,用5nA的入射电子流,实现在一幅极图中,同时显示锆酸镧外延层和Ni-W衬底的织构,还在一幅菊池花样中,同时包含锆酸镧外延层和Ni-W衬底两相的菊池花样,在此基础上可用商用EBSD分析软件,测量出锆酸镧外延层与Ni-W衬底在面内和外延生长方向(c-轴)的晶体取向匹配关系,具有直观、简便,且不需要对锆酸镧进行表面预处理的优点,并适用于其它外延材料系统。

著录项

  • 公开/公告号CN101813645B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-11-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN201010108670.7

  • 发明设计人 吉元;王丽;张隐奇;卫斌;

    申请日2010-02-05

  • 分类号

  • 代理机构北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人楼艮基

  • 地址 100124 北京市平乐园100号

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-03-27

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 23/207 授权公告日:20111116 终止日期:20120205 申请日:20100205

    专利权的终止

  • 2011-11-16

    授权

    授权

  • 2010-10-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/207 申请日:20100205

    实质审查的生效

  • 2010-08-25

    公开

    公开

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